AGENDA - National Instruments Germany GmbH

AGENDA | VIP 2015 – Virtuelle Instrumente in der Praxis Mittwoch, 21. Oktober 2015 9:30

Begrüßung: Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments - Keynote: Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, National Instruments

11:00

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Power Programming Effizient entwickeln mit LabVIEW – Tipps & Tricks

11:30

Jonas Leiter National Instruments

3D-Darstellung von Magnetfeldvektoren mit dem LabVIEW 3D-Bild 12:15

Tobias Starz Hartmann-exact KG

Test & Measurement

Verification & Validation

Hochflexibler Antriebsprüfstand einer Erntemaschine mit PXI Real-Time und TestMaster

Automating Embedded Software Testing With TestStand, VeriStand, and DIAdem

Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik GmbH Clemens Hortmann CLAAS Selbstfahrende Erntemaschinen GmbH

Produktiver entwickeln mit softwaredesignten Messgeräten Jonas Leiter National Instruments

Stefan Kissel National Instruments

Projektphasenübergreifender Einsatz von NI Requirements Gateway

Optimierte Testabdeckung bei zeitlich limitierten Regressionstests mit TestStand Thomas Schmidhuber MTU Friedrichshafen GmbH

Tobias Hamberger MicroNova AG

Best Practices für verteilte Systeme zur Datenerfassung

NI TestStand und ASAM-XIL in der Praxis

René Schricker National Instruments

Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH Philip Deppe, National Instruments

Vereinfachte Integration piezoelektrischer Sensoren in NI CompactRIO – Beispiele aus der Praxis Martin Stierli Kistler Instrumente AG Sascha Kamps WZL RWTH Aachen

Implementierung eines CANopen Slave Custom Device für VeriStand zur Simulation / Integrationstest von Schienenfahrzeugen

Lukas Suttner, Thomas Putz ista international GmbH

Meet the LabVIEW Experts National Instruments & Friends

ab 18:00

Workshops

Workshops

Big Analog Data – große Anforderungen smart gelöst

NI´s Vision vom Halbleitertest

Erste Schritte mit PXI-Systemen

Christian Spiss Bernd Fasching National Instruments

Christian Pieper National Instruments

LabVIEWQuellcodeverwaltung praktisch umsetzen

Andreas Haub National Instruments

Choosing a software architecture for your next embedded application

DIAdem und DFSE Highlights der aktuellen Versionen

Eric Myers National Instruments

Walter Rick National Instruments

René Schricker National Instruments

Requirements driven verification procedures using NI semiconductor test system Thomas Santer, Benjamin Maier Infineon

FLIP – ein innovatives Messgerät auf Basis von NI CompactRIO zur Charakterisierung der Leberfunktion mittels Atemgasanalyse

Bridging “The Edge” Unternehmensweite Daten- und Prozessintegration mit Hypertest, DataFinder und DIAdem

NI PXI system-based validation, characterization and debug of integrated circuits made in advanced semiconductor technologies

Axel Luchterhand, Alexander Helmke Humedics GmbH

Christian Sommer, Werum Software & Systems AG Stefan Romainczyk, National Instruments

Dr. Michael Otto GLOBALFOUNDRIES

Prüfstandsmodernisierung vs. Neubau

Labordatenmanagement mit DIAdem

Automatisierte Produktcharakterisierung von magnetoresistiven Drehzahlsensoren

Dr. Joachim Hilsmann measX GmbH & Co. KG

Uwe Hein, Miele & Cie. KG Karl Finkl, A-Solution GmbH

Automatisierte Testsysteme auf Basis von PXI erstellen Andreas Gareis National Instruments

Ein neuer Designansatz für SDR René Nüssgen, Jörg Hofrichter, National Instruments

Lennon Schlottke NXP Semiconductors Germany GmbH Martin Müller A.M.S. Software GmbH

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Framework als Prüfstandsplattform

17:15

Semiconductor Test

Andreas Rzezacz Voith Engineering Services GmbH Road & Rail

16:00

16:30

Peter Simandl National Instruments

Datamanagement

Mittagspause/Besuch der Ausstellung Erweitern Sie Ihre Kenntnisse um die LabVIEW RIO Architektur

15:15

FlexRIO in EmbeddedApplikationen

Nicholas Keel National Instruments

13:00

14:30

Embedded Control & Monitoring

Einsatz von NI TestStand als standardisiertes Testwerkzeug – drei Beispiele für angepasste UIs, Prozessmodelle und Schritttypen

Vollständige Automatisierung eines hochdynamischen Lenkungsprüfstands für realitätsnahe Prüfungen

Norbert Brand National Instruments

Marc Scherer, ITK Engineering AG

LabVIEW Meets FDA Softwareentwicklung zum Test medizinischer Geräte

PowerTrain-Lösungen im automatisierten Laboreinsatz

Laurant Chatard, Domenico Labella Konrad Technologies GmbH

Peter Deckelmann, Armin Huber Berghof Automation GmbH

Software Monetization – die Technologie zum Schutz des intellektuellen Eigentums Aurelius Wosylus, Gemalto GmbH

Getting the most out of your NI Linux real-time target Eleni Tragousti, Robert Halas National Instruments

Statistische Auswertung von End-of-Line-Tests Torsten Althoff, Deutz AG Martin Winkler, measX GmbH & Co. KG

Vorsprung durch Wissen – Wertschöpfung durch Metainformationen in der Produktionstechnik

Qualifikation von Leistungshalbleitern in Bereichen von 2000 V und 1000 A Frank Heidemann, SET GmbH Bernhard Rennhofer, National Instruments

Erste Schritte mit NI TestStand Andreas Gareis National Instruments

Interaktives Datenmanagement, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem Christian Pieper National Instruments

Fertigungsendtest für MEMS-Mikrofone Sebastian Walser, Hochschule München / EPCOS AG

Sven Götz, Sascha Kamps WZL RWTH Aachen

Get-together Vortrag in englischer Sprache

AGENDA | VIP 2015 – Virtuelle Instrumente in der Praxis Donnerstag, 22. Oktober 2015 9:00

Keynote: Francis Griffiths, Senior Vice President, Regional Sales & Marketing, National Instruments Volker Bibelhausen, Vice President Factory Automation, Bosch Rexroth AG

10:00

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Power Programming Speed up your programming – Quick Drop

10:30

11:15

Phillipp Hohl, ifm syntron GmbH Lorenz Casper, National Instruments

POLARIS Vision: Ein Beispiel für die Erstellung flexibler, wiederverwendbarer Bibliotheken durch Einsatz von LVOOP, XControl und Variantdatentyp Alexander Kessler Friedrich-Schiller-Universität Jena

Test & Measurement

Verification & Validation

Effizientes Testen von Wireless-Standards (Cellular, WLAN, BT, GNSS) für Automotive und mobile Geräte

Validierung von IGBT- und IGCT-Leistungsmodulen mit einem FPGA-basierten LabVIEW-System

Manuel Bogedain NOFFZ Technologies Dr. Tim Hentschel National Instruments

Paralleltest von LTE-NADModulen mit NI Wireless Test System Markus Solbach NOFFZ Technologies Enrique Gutierrez, peiker acustic GmbH & Co. KG

Daniel Huang, Christof Matla Siemens AG

Skalierbare Hardware-in-theLoop-Prüfstände für Energiemanagementsysteme Andreas Ebentheuer, Julian Taube, TU München Philip Deppe, National Instruments

12:00

13:30

Actor Framework – Usage of abstract messages

LabVIEW Communications: Die Revolution im Rapid Prototyping

Oliver Wachno, Bürkert Fluid Control Systems

17:00

Industrie 4.0 in der Praxis Offene Automation mit LabVIEW und Open Core Engineering

Workshops

Workshops

IIoT in Practice: The Power of Connected Measurements – From Insight into the Past to Vision of the Future

Einstieg in die industrielle Bildverarbeitung

Implementierung von Echzeittest-Applikationen mit NI VeriStand

René Schricker National Instruments

Jaakko Ala-Paavola Espotel

Christoph Deleye National Instruments

Industrie 4.0 vs. Industrial Internet Consortium Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, NI Germany

Andreas Winter Bosch Rexroth AG, Manuel Hofmann, National Instruments

Design von Serienprodukten mit Embedded-Hardware

Frank Heidemann, SET GmbH

Marco Schmid Schmid Elektronik AG Manuel Hofmann National Instruments

René Nüssgen National Instruments

Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs

Verification & Validation von A bis Z

Development of a biosensor platform based on NI SOM

Andreas Stark National Instruments

Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH

Thomas Kraus, Stefan Sailer Universität der Bundeswehr München

Technik richtig kommunizieren – Öffentlichkeitsarbeit als Erfolgsfaktor

Erste Schritte mit der RIO-Architektur Christoph Deleye National Instruments

Stefan Zacher, Sprachperlen GmbH

Interaktives Datenmanagement, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem Christian Pieper National Instruments

Prozessorientierte Konzerne treffen auf innovationsfreudige Gründer: Warum BMW und MakerSpace kooperieren Phill Handy, UnternehmerTUM MakerSpace GmbH Stephan Augustin, BMW AG

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung Web-Applikationen auf Basis von LabVIEW erstellen

16:15

Domenic Foerderer, ProNES Automation GmbH Matthias Hielscher, MüKo GmbH

Werkzeugqualifikation für TestStand nach ISO 26262

15:00

15:30

Bildverarbeitung zur Bewertung und Steuerung nachgelagerter Prozesse

Business Trends

Mittagspause/Besuch der Ausstellung LabVIEW und GOOP: Eine Alternative zu herkömmlichen objektorientieren Programmiersprachen schaffen Christian Geistberger, Linz Center of Mechatronics GmbH

14:15

Embedded Control & Monitoring

René Schricker National Instruments

Kombinierte Analyse und breitbandige Aufzeichnung von komplexen ELINTSignalen Jens Keute, Elettronica GmbH

Embedded Hardware für LabVIEW

EOL-RF- und Display-Test an Car-Sharing-Modulen

René Schricker National Instruments

Herbert Berger Periscope GmbH Manuel Bogedain NOFFZ Technologies

Modular und automatisiert: Praxisnahe Lösungen beim Testen nach der LV124 Ronald Kaempf, WKS Informatik GmbH Franz Bosch, SIBO Electronic Vertriebs GmbH

Condition Monitoring von Turbinen und Generatoren in Wasserkraftwerken auf Basis von NI-Hardware und LabVIEW

The World Is Ours to Make: The Impact of the Maker Movement Dave Wilson, Director Academic Marketing, NI Corp.

Einstieg in die FPGAProgrammierung Christoph Deleye National Instruments

Erste Schritte mit Datenerfassungssystemen von NI Christian Pieper National Instruments

Andreas Rzezacz, Holger Hochtritt, Voith Engineering Services GmbH Road & Rail

Closed Loop Control and Real-Time Simulation with VeriStand

Anlagenstillstand verkürzen durch Online Condition Monitoring mit InsightCM

Nicholas Keel National Instruments

Rupert Donauer National Instruments

Vom Maker zum erfolgreichen Start-Up – Das NI Technology Access Program Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH Abdülkerim Dagli, National Instruments

Ende Tag 2 Vortrag in englischer Sprache

AGENDA | VIP 2015 – Virtuelle Instrumente in der Praxis | Academic Forum Freitag, 23. Oktober 2015

9:00

Keynote: Dave Wilson, Academic Marketing Director, National Instruments

10:30

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung

11:00

Praxisorientierte Lehre

Forschung und Laborversuche

Workshops

Workshops

Modelbasierte Simulation und experimentelle Anwendung von mechatronischen Systemen in der Lehre in Verbindung mit myRIO und Model Interface Toolkit

Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs

Erste Schritte mit Datenerfassungssystemen von NI

Implementierung von EchzeitTestapplikationen mit NI VeriStand und myRIO

Jochen Theis FH Aachen

11:45

Kennlinienaufnahme mit dem NI myDAQ als Live-Experiment im Unterricht Prof. Georg Eggers HS München

Thomas Kraus, Stefan Sailer Universität der Bundeswehr München

Christian Pieper National Instruments

Christoph Deleye National Instruments

Entwicklung einer Automatisierungslösung zum Steuern einer Vier-QuadrantenLeitungsbremse mit 250 kW auf Basis eines cRIO-9074 Norbert Schmotz Universität Rostock

12:30

13:30

Mittagspause/Besuch der Ausstellung Praxisorientierte Lehre – Beispiele für die Einbindung von Versuchsaufbauten in die regelungstechnische Ausbildung unter Nutzung von NI-Hardware und -Software

Fiber-optical observation of the material behaviour of a natural stone specimen under local load Klaus Weraneck TU München

NI myRIO – Teil 1: Einführung in Embedded-Systeme in der Lehre

Einstieg in die FPGAProgrammierung

Peter Simandl National Instruments

Christoph Deleye National Instruments

Prof. Steven Lambeck FH Fulda

14:15

Praktikumsversuch CW/FMCW Radar auf Basis von myRIO Markus Gardill FAU Erlangen-Nürnberg

15:00

Tarek Aissa FH Fulda

Kaffeepause/Besuch der Ausstellung Kooperation ifm syntron & HMS im Praktikum zur Vorlesung LabVIEW an der HS Ravensburg-Weingarten

15:30

Implementierung modellbasierter prädiktiver Regelungsansätze für ein Dreitanksystem in LabVIEW

Philipp Hohl ifm syntron GmbH

Entwicklung eines Datenerfassungssystems zur Messung und Kontrolle des Sauerstoffpartialdrucks in der Festkörpersynthese

NI myRIO – Teil 2: Steuerung und Regelung mit dem QUANSER Cube

LabVIEW-Quellcodeverwaltung praktisch umsetzen

Peter Simandl National Instruments

René Schricker National Instruments

Felix Seibel, Dr. Paolo Sereni Universität Salzburg

16:15

17:00

Meet the LabVIEW Academy Experts Tomasz Kachnic National Instruments

Hochfrequente Mehrkanal Druckmessungen an einer Triebwerkversuchsanlage Alexander Pohl TU München

Ende des Academic Forum